CM@S-Kolloquium
Die Fakultät für Elektrotechnik, Informationstechnik und Medientechnik lädt zur Teilnahme an folgender Vortragsveranstaltung mit anschließender Diskussion ein:
Um 16:00 Uhr spricht Prof. Dr. Stefan Zaefferer vom Research Group Diffraction and Microscopy vom Max Planck Institute for Sustainable Materials über:
Electron diffraction in the SEM as a universal tool for material science: Quantitative analysis of crystal structure, microstructure and texture using electron backscatter diffraction (EBSD) and electron channeling contrast imaging (ECCI)
Hier können Sie die vollständige Kurzfassung einsehen.
